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作者:吴胥阳

  • 基于特高频法的1100kV GIS局部放电缺陷定位研究

    杨勇;王泓学;吴胥阳;王绍安;张静;2016年10期 v.35;No.246 [查看摘要][在线阅读][下载 2876K]
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  • 特高压GIS特高频内置传感器有效监测范围现场测试与评估技术研究

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  • 一起高压套管更换末屏引出装置后介质损耗因数异常分析

    黄晓峰;吴胥阳;张健聪;王颖剑;2019年04期 v.38;No.276 [查看摘要][在线阅读][下载 2585K]
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