低压配电网拓扑识别技术的真型试验研究A true test research of topology identification technology for low voltage distribution networks
陈尚,邵苠峰,李辉,尹晶,陈江波,杜砚,邱进
CHEN Shang,SHAO Minfeng,LI Hui,YIN Jing,CHEN Jiangbo,DU Yan,QIU Jin
摘要(Abstract)：
为解决低压配电网网架拓扑“看不透”“互动差”的问题，许多低压拓扑识别方法被提出，但大多数都是进行仿真验证，未在真实的线路上进行实证，因此，利用新一代低压配电网安全真型试验平台对低压配电网拓扑识别技术试验方案进行了研究。首先介绍了在武汉特高压交流试验基地建立的新一代低压配电网安全真型试验平台。然后提出了低压配电网拓扑识别技术试验方案。最后进行了低压配电网拓扑识别技术真型试验，验证了拓扑识别方法中载波通信法的有效性以及平台的先进性。
Architectural topologies of low voltage distribution networks are hard to “figure out” and “poor in interaction”. Therefore, many topology identification methods have been proposed, most of which have been simulated rather than tested on lines. Thus, low-voltage distribution network topology identification technology testing is investigated using a next-generation true test platform. Firstly, the next-generation true test platform established in Wuhan UHVAC testing base is introduced. Then the test scheme of low-voltage distribution network topology identification technology is proposed. Finally, the test of low-voltage distribution network topology identification technology is carried out to verify the effectiveness of the carrier communication method in the topology identification method and the platform′s superiority.
关键词(KeyWords)：
低压台区;拓扑识别;真型试验;故障复现
low-voltage transformer area;topology identification;true test;fault recurrence
基金项目(Foundation): 国家电网有限公司科技项目（5442PD210006）
作者(Author):
陈尚,邵苠峰,李辉,尹晶,陈江波,杜砚,邱进
CHEN Shang,SHAO Minfeng,LI Hui,YIN Jing,CHEN Jiangbo,DU Yan,QIU Jin
DOI: 10.19585/j.zjdl.202212004
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